电压立即跳升，同时电压不稳，容易造成烧行管。
还有，二次供电采样电压路和稳压电路元器件损坏，也会造民二次供电异
常。

3、 行偏转线圈或行输出变压器局部短路
行偏转线圈奩行输出变压器发热后，因漆包线之绝缘性能下降而产生局部短
路，如果保护电路性能不佳，则会引起行管损坏。这时可与同型号好机器相比
较，通过万用表万用表测量行输出级电流来判断。如果开机瞬间马上烧坏行管，此时用手摸散
热片之温度较高，则说明是行偏转线圈或行输出变压器有短路，引起行管过流击

穿。
4
、 行频过低
因为流过行偏转线圈电流之 大值与行正程扫描时间成正比，即行频越低，
周期越长，行正程时间相应变长，结果使行偏转电流上升，当超过行管所承受之
电流 大值时，使用行管烧坏。因此，在调整行频时，应避免使用行频长期处于
偏低状态。显示器之行频是由 MCU检测行场信号后，根据显示模式自动切换产
生，一般不会出现行频过低现象。

5、 行逆程时间过短
在行逆程期间，会产生很高之反峰脉冲电压，这就要求行逆程电容，行输出
管，阻尼二极管等元件具有很高之耐压能力。当行逆程电容容量变小，失效或开
路时，反峰脉冲电压上升，一旦超过行管之耐压值，就会出现行管换一只烧一只
之结果。此时，迅速用手摸行管之散热片，若温度与未开机前差不多，则说明是
因为逆程电容开路而引起之过压击穿。
解决方法：是将行逆程电容全部换新。
6、 行激励不足
如果行激励不足，行管不能迅速饱和，导致行管内阻变大，使用行扫描线性
变差；如果行激励不足，行管不能迅速地截止，使用行管长时间地处于有电流流
过之不好工作状态，将造成行输出电路之功耗增加，引起行输出管发烫。一旦
超过行管功耗之极限值，则会使用行管再度烧坏。其时间间隔有快有慢，有之则
开机就烧行管；有之过一段时间才会烧行管。若时间间隔长，不防用示波器观察
激励级之波形，可帮助找到故障原因。
造成行激励不足之原因有：行激励管性能不良；行激励变压器之供电电阻阻
值增大；行激励变压器之周围元件有虚焊；行激励变压器初级烧组上之滤波电容
变质；行振荡电路之晶振不良；集成电路中行振荡电路单独供电脚之外接电容失
效造成滤波不良。
、 环境潮湿
7
这使用行输出变压器周围元件漏电，或者因散热不良(如将彩电置于柜内，
或检修时行管与散热板上之固定螺丝未拧紧)，行管过热，使其耐压降低， 终
导致损坏行管。
、 行偏转线圈开路
8
此时行扫描正程后半段行管导通之时间将会大于其截止时间，使用行管在逆
程时间内也短暂导通，导致行管损坏。因此，检修时要特别小心，在行偏转线圈
及其回路开路之情况下，如果长时间通电检修，是极危险之。
9、 行扫描电路中元件存在不稳定或老化，损坏短路等问题。
如 S 校正电容短路，枕校电路元件短路，使行电流大增，造成行管因过流

而击穿。
2
徐州市菲克斯科技有限公司 QQ：26433849 TANK

此外，阻尼二极管开路，自举升压电容短路，高压电泄露(如高压打火，高
压线穿孔)，行管质量差，显像管内部跳火，AFC 电路故障等，也会造成行管过
流击穿。

10、 开关电源中之行脉冲信号耦合电容，取样电压滤波电容失容。
受附近大功率元件高温烘烤后，电容失容，导致行管击穿。
11、 行包（FBT 回扫变压器）或行中心调整线圈，枕校变压器，行管，
逆程二极管等引脚虚焊
虚焊是显示器元件损坏大敌，开关电源变压器，电源管，行管，行包，逆
程二极管，逆程电容，行中心调整线圈都工作在大电流，高电压环境，虚焊会造
成瞬间之接通与截止，尖峰电压很容易烧毁电源管和行管。
12、 行管型号不对或行管放大倍数相差太大，或使用了内置阻尼二极管
或阻尼电阻之行管
我们在万用表万用表测量行扫描电路之、关键点电压时，也要注意万用表万用表测量方法，如果万用表万用表测量方
法不当也会瞬间烧行管。
13
、 高压打火，也是造成行管损坏之一种原因
高压包在使用三到五年后，由于绝缘介质之老化，容易出现高压打火现象。
高压打火可能发生在高压包内部，也可能发生在高压包对接地装置，也可能是高
压嘴周围打火，或高压线穿孔，高压打火出现会造成高压不稳，瞬间之放电导致
行管负载变化异常造成行管烧毁。