根据行管击穿之故障类型分：

1、过压击穿

2、过流击穿
行管损坏后，我们在拆下行管，可以使用万用表万用表测量其静态电阻，如果 CE阻值在数百欧姆，行管一般是在使用过程中，过流后过热慢慢烧毁，在烧毁之前需要有一定之时间积累。如果 CE阻值在数欧姆，此类情况是行管过压烧毁，多数都是瞬间意外突然烧毁之，在烧毁之前没有异常征兆，或者是开机即烧行管，或者是使用几天也没有问题但没有规律某次开机时突然烧行管。 行管击穿检修之检修方法行管击穿检修之检修方法：：
行管击穿检修之检修方法行管击穿检修之检修方法：：
1、 电流监测法
检测点：在+45V或+51V或+190V开关变压器二次供电输出电容处，二次供电调整管滤波电容处，行包初级线圈后。

2、 电压万用表测量法
显示器之行激励供电因为显示器设计不同，有取自+12V，+45V，+80V等几种，显示器之行管有使用双极型之，也有使用场效应管之。
如果不好找对应型号，可以考虑直接使用 IRF630，在代换行激励管后， 好使用示波器万用表测量一下波形，同时长时间监测一下行管之温升。
3、 波形检测对比法
行场 IC 之 HOUT 端，行激励管之 C 极，行激励变压器之 34 脚，行管之 B极，行管之 C 极(要注意万用表测量方法)。这些关键点之波形一般是固定之，如果某点VPP 值变低或变高，都会造成行管激励不足或过激励而烧毁行管。如果某点之波形畸变，也会造成行管过流，长时间使用过热烧毁。通过波形检测，可以迅速定位故障点，找出故障原因。
4、 温度万用表测量法
主要用于更换行管后，对行管之温度进行长时间监控，一般行管连续使用两70 度以下，基本都可以使用。注意测个小时以上，行管之温度不上升，保持在量时，要盖上后盖，不开盖之状态万用表测量与盖盖万用表测量温度会有不小之差异，要万用表测量时要注意与实际使用环境温度相当。
5、 元件替换排除法
对于判断行逆程电容容量减小之故障，可以采用电容并联法。
对于行管发热量大之问题，可以选用几个不同之行管（三代，四代，五代）

之行管进行替换，分别测试行电流大小和发热量，温升 小之选用。
行管击穿之原因分类行管击穿之原因分类：：
行管击穿之原因分类行管击穿之原因分类：：
1、 开关电源输出电压偏高
由于电源稳压系统出现故障，不能稳压，导致 B+电压上升。如果 B+电压超过 10%以上，会产生行管击穿损坏现象。这时应重点检查取样电路，误差放大器和脉宽控制电路之元件。另外，若电网电压太高，超过了开关电源允许之稳压值范围，也会造成开关电源输出电压偏高。
2、 二次供电稳压电路异常，导致二次供电过高
好情况下，显示器开机时，由于缓启动电路之存在，B＋之电压是慢慢升高，而不是开机后直接跳为高电压。如果缓启动电容失容损坏，就会造成开机时电压立即跳升，同时电压不稳，容易造成烧行管。
还有，二次供电采样电压路和稳压电路元器件损坏，也会造民二次供电异常。

3、 行偏转线圈或行输出变压器局部短路
行偏转线圈奩行输出变压器发热后，因漆包线之绝缘性能下降而产生局部短路，如果保护电路性能不佳，则会引起行管损坏。这时可与同型号好机器相比较，通过万用表测量行输出级电流来判断。如果开机瞬间马上烧坏行管，此时用手摸散热片之温度较高，则说明是行偏转线圈或行输出变压器有短路，引起行管过流击穿。
4、 行频过低
因为流过行偏转线圈电流之 大值与行正程扫描时间成正比，即行频越低，周期越长，行正程时间相应变长，结果使行偏转电流上升，当超过行管所承受之电流 大值时，使用行管烧坏。因此，在调整行频时，应避免使用行频长期处于偏低状态。显示器之行频是由 MCU检测行场信号后，根据显示模式自动切换产生，一般不会出现行频过低现象。

5、 行逆程时间过短
在行逆程期间，会产生很高之反峰脉冲电压，这就要求行逆程电容，行输出管，阻尼二极管等元件具有很高之耐压能力。当行逆程电容容量变小，失效或开路时，反峰脉冲电压上升，一旦超过行管之耐压值，就会出现行管换一只烧一只之结果。此时，迅速用手摸行管之散热片，若温度与未开机前差不多，则说明是因为逆程电容开路而引起之过压击穿。
解决方法：是将行逆程电容全部换新。
6、 行激励不足
如果行激励不足，行管不能迅速饱和，导致行管内阻变大，使用行扫描线性变差；如果行激励不足，行管不能迅速地截止，使用行管长时间地处于有电流流过之不好工作状态，将造成行输出电路之功耗增加，引起行输出管发烫。一旦超过行管功耗之极限值，则会使用行管再度烧坏。其时间间隔有快有慢，有之则开机就烧行管；有之过一段时间才会烧行管。若时间间隔长，不防用示波器观察激励级之波形，可帮助找到故障原因。
造成行激励不足之原因有：行激励管性能不良；行激励变压器之供电电阻阻值增大；行激励变压器之周围元件有虚焊；行激励变压器初级烧组上之滤波电容变质；行振荡电路之晶振不良；集成电路中行振荡电路单独供电脚之外接电容失效造成滤波不良。
7、 环境潮湿
这使用行输出变压器周围元件漏电，或者因散热不良(如将彩电置于柜内，或检修时行管与散热板上之固定螺丝未拧紧)，行管过热，使其耐压降低， 终导致损坏行管。
8、 行偏转线圈开路

此时行扫描正程后半段行管导通之时间将会大于其截止时间，使用行管在逆程时间内也短暂导通，导致行管损坏。因此，检修时要特别小心，在行偏转线圈及其回路开路之情况下，如果长时间通电检修，是极危险之。
9、 行扫描电路中元件存在不稳定或老化，损坏短路等问题。
如 S 校正电容短路，枕校电路元件短路，使行电流大增，造成行管因过流而击穿。